NEWS
CSR
会社情報
トップメッセージ
役員一覧
関連会社
公的研究費の管理・監査体系
UV-LAMP
STEPPERUV Irradiation System
PROCESSING EQUIPMENT
PURE O TECHNOLOGYUV
DIRECT IMAGING SYSTEM
POWER SUPPLY/LIGHT MEASURING
UV IRRADIATION DEVICES/
CONTACT EXPOSURE SYSTEM
2006/01/05
掲載記事:照明学会誌 Vol.89(2005)No.2 PP.100-111 『残留応力が超高圧水銀放電灯バルブ部の破壊強度に及ぼす影響』
10 / 15